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各種MV用途に好適な機能を搭載した、29×29×55mmサイズの小型CoaXPressカメラ。
SONY社製 第4世代グローバルシャッタ方式のCMOSセンサ搭載。 29(W)×29(H)×55(D)mmの小型サイズながら500万画素を約101fps(8bit)で出力可能。 外部トリガ、長距離伝送、ROI、2×2ビニング、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ補正などMV用途に好適な各種機能を搭載。 また、1本の同軸ケーブルを経由してデータ伝送・カメラ制御・電源供給が可能なため、複数台カメラを使用する用途でも省スペース・省コストに貢献。
2億5000万画素の超高解像度！CXP I/Fカメラ
『VCC-250CXP1M（モノクロ） / R（カラー）』は 2億5000万画素の超高解像度を特長とする高性能小型カメラです。 超高精細な撮像が可能で、MV用途に好適です。 【主な仕様】 ■APS-H型ローリングシャッタ方式 CMOSセンサー ■1.5um x 1.5um セルサイズ ■映像出力モード: CoaXPress CXP6×4lanes ■映像出力フォーマット: Mono8/Mono10/Mono12 ■データ伝送、電源供給の同軸インターフェース(PoCXP) ■最大15秒の可変シャッター ■M48マウント ■ファン内蔵により放熱に優れた筐体 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
半導体ウエハの欠陥を高精度に検出。生産効率向上に貢献。
半導体業界では、製品の品質を確保するために、ウエハや基板の微細な欠陥を正確に検出することが不可欠です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、欠陥のサイズはますます小さくなっており、従来の検査方法では見逃してしまう可能性があります。当社の超高画素CoaXPressカメラは、広視野角と超高精細な撮像能力により、微細な欠陥を高精度に検出します。これにより、不良品の流出を防止し、歩留まりを向上させることが可能です。 【活用シーン】 ・半導体ウエハの欠陥検査 ・基板の異物検査 ・電子部品の外観検査 【導入の効果】 ・微細な欠陥の検出精度向上 ・不良品の流出防止 ・歩留まりの向上
耐環境性能に優れたKOWAの産業用カメラ
■全機種に耐振動・耐衝撃性能を備えた強固な設計 ■各種インターフェース対応（GigE Vision／CoaXPress） ■多数の高品質なレンズとのユニットで一括保証 ■開発・製造・販売・サポートまで自社で一貫 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
カメラ1台のシンプルなシステム構成ながら、広視野かつ１億２０００万画素の高解像度な撮像を実現！
「1台のカメラで検査する際に、視野サイズが小さくて見きれない…」 「複数カメラを用いた並列検査の場合、スペースが足りない…」 というお悩みをお持ちのお客様に、CISでは複数カメラを用いた並列検査よりも、カメラ1台のシンプルなシステム構成ながら広視野かつ高解像度な撮像を実現できる高解像度カメラ「VCC-120CXP1」シリーズをご提案し、様々な業界・分野で、広視野・高解像度・省スペース/省コストを求めているお客様の課題の解決に貢献いたします。
