低インダクタンス用インパルス試験器 Model 19301A
0.1μH～100μHまで対応可能な低インダクタンス用インパルス試験器。
19301Aは、印加電圧10Vdc～1000Vdcに対応し、高速200MHzのサンプリングによって取得した波形データを、4種類のインパルス試験判定方法（波形面積比較/波形差分面積比較/波形フラッター検出/波形二次微分検出）で高精度な測定が可能です。試供体インダクタンス試験範囲は0.1μH～100μHです。 巻線部品の測定には、電機特性試験や電機安全規格の測定耐圧測定などがあり、巻線部品が絶縁不良する主な原因の一つに使用環境によって発生するレアショートがあります。このようなレアショートの検出を行う場合にもご利用いただけます。 インパルス試験は0.1μHから測定可能。4端子試験回路機能を使用する事で、超低インダクタンスのコイル、チップ、パワーインダクタンス測定の他、チョークコイル、巻線数の少ないコイルの測定に最適です。また、コンタクトチェック測定、インダクタンス測定および電圧補償機能によってより精度の高い測定が可能となっています。
- 企業：クロマジャパン株式会社
- 価格：応相談
