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CTスキャナ×ND GROUP 日本支社 - メーカー・企業と製品の一覧

CTスキャナの製品一覧

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ドイツ サブマイクロフォーカス工業CT diondo d5

熱膨張率が低い花崗岩ステージ!2種類の検出器が搭載可能な高出力 X 線源・高解像度検出器でX線検査・3D解析で欠陥品を発見!

diondo d5 は、性能、サイズ、機器の互換性を必要とするお客様向けに特別に設計されています。 高出力 X 線源と高解像度検出器を最大 9 軸の精密機械システムの組み合わせで、柔軟性とパフォーマンスの革新的な飛躍が可能になります。 ▪ さまざまな組み合わせが可能 特定の試験ニーズを満たすために最大 2 つのチューブと 2 つの検出器を装備 ▪ 革新的なソフトウェア パッケージ スパイラルCT、散乱補正、平面CT撮影など、多彩な検査ソリューションに対応。 ▪ 座標測定技術 VDI/VDE 2630-1.3 規格に準拠した再現可能な 3D 測定テクノロジーにより、最高の測定要件を満たします ▪ 花崗岩の機械システム 最大 9 つのモーター駆動軸を装備可能で、最大限の柔軟性を実現 ▪ 現場ローディング機能 限られた試験条件下でパーソナライズされた試験ソリューションを提供する

  • 放射線測定器
  • X線検査装置
  • 受託解析

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ドイツ diondo工業CT測定サービス-チップ-電子・電気

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体

5万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信ターゲット X線管: 160~300kV エリアアレイ検出器: 3000 × 3000px、139μm 焦点距離範囲: 400-1200mm、調整可能 最大有効検出範囲: Ø520×H650mm 最大耐荷重:50kg diControl ソフトウェアの機能 :DR 機能、スパイラル CT、角度制限スキャン、高速 CT、高速再構成 GPU 加速、ビームハードニング補正、アーティファクト補正、バッチ自動検出、自動ジオメトリ補正、日常検出、ステータス検出、測定モジュール VDI/VDE 2630 【お問合せ・お見積り】 メール:info@nd-seiko.co.jp 電話:0538-84-9600

  • 受託解析
  • 受託測定
  • 受託検査

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ドイツ diondo工業CT測定サービス-生物医学分野

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体

5万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 内部構造 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信ターゲット X線管: 160~300kV エリアアレイ検出器: 3000 × 3000px、139μm 焦点距離範囲: 400-1200mm、調整可能 最大有効検出範囲: Ø520×H650mm 最大耐荷重:50kg diControl ソフトウェアの機能 :DR 機能、スパイラル CT、角度制限スキャン、高速 CT、高速再構成 GPU 加速、ビームハードニング補正、アーティファクト補正、バッチ自動検出、自動ジオメトリ補正、日常検出、ステータス検出、測定モジュール VDI/VDE 2630 【お問合せ・お見積り】 メール:info@nd-seiko.co.jp 電話:0538-84-9600

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ドイツ diondo工業CT測定サービス-地質学

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円~/1 検体

5万円(税別)~/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名:汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管: 190-300kV 送信ターゲット X線管: 160~300kV エリアアレイ検出器: 3000 × 3000px、139μm 焦点距離範囲: 400-1200mm、調整可能 最大有効検出範囲: Ø520×H650mm 最大耐荷重:50kg diControl ソフトウェアの機能 :DR 機能、スパイラル CT、角度制限スキャン、高速 CT、高速再構成 GPU 加速、ビームハードニング補正、アーティファクト補正、バッチ自動検出、自動ジオメトリ補正、日常検出、ステータス検出、測定モジュール VDI/VDE 2630 【お問合せ・お見積り】 メール:info@nd-seiko.co.jp 電話:0538-84-9600

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