ウインテスト株式会社
〒220-0023 横浜市西区平沼1-2-24
当社は、最先端半導体デバイスの自動検査装置メーカーです。4Kや8Kなどの先端ディスプレイに搭載される画像生成ICとデジタル半導体ICの検査装置を主軸に、日本、アジア各国において半導体検査装置の開発、設計、販売並びに技術サポートを行っております。 【得意技術】 ディスプレイドライバIC検査や表示パネルの画素トランジスタの超微弱信号検査（特許）など高度な自社技術で開発した装置は高速、コンパクトで拡張性が高く、国内・海外大手メーカーの生産部門はもとより、お客様開発部門等へ数多くの納入実績があります。 ・微小信号検査：画像の画素トランジスタの空乏層に存在する10-15フェムトアンペアを判定する技術 ・デジタル信号の発生/ 取込を1.6Gbpsの超高速で行う技術 ・高速デジタル信号発生能力4Gbpsを実現する機能ボードの開発 ・測定チャンネル数（デジタイザ最大ピン数3584ピン）を搭載
- 企業：公益財団法人横浜企業経営支援財団
- 価格：応相談
