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さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム
『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視～近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ■解析装置（PC本体）・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データの セットで直ちに使用可能 ■【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に 対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム
『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、 測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・ データ収集を行うシステムです。 また、セミオートプローバとの組み合わせにより、ウエハの自動測定に対応することも可能です。 【特長】 ■発光素子・受光素子のさまざまな電気・光学特性測定をウエハレベルで測定可能 ■各種測定の自動化・高速化・省力化を実現 ■当社製光計測用光学系M-Scopeシリーズ各種光学系を搭載可能 ■光計測・解析ソフトウエアOptometrics Customized Versionを搭載 ■個別素子の測定からインライン使用まで幅広く対応可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系（簡易型NFP計測光学系も使用可能） を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム プロファイル計測・解析に使用することができます。 また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで さまざまなシステム構築が可能です。 【特長】 ■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、 さまざまな光デバイスの計測・解析が可能 ■低価格でシステム構築も可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
