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汎用性の高いX線回折ソリューション
アントンパール社の精密で柔軟なXRDソリューションは、最高のデータ品質と他に類を見ない測定効率を兼ね備えています。アントンパール社の信頼性の高いシステムは、直感的に操作できる設計で、高度に自動化されているため、サンプルスループットの向上と装置の稼働率の最大化を実現しています。XRDynamic 500粉末回折装置は、高品質の光学系、次世代ゴニオメーター、最先端の検出器を搭載しています。また、大気及び非大気用サンプルステージの豊富な製品ラインナップにより、さまざまなアプリケーションをカバーしているため、お客様のニーズに最適なXRDシステムを必ず見つけることができます。
昇温しながらXRD測定が可能
材料が昇温に伴って化学反応・相変化を経て結晶構造に変化が起こる場合、昇温しながらXRD測定を行うことが有効です。高温XRD測定を行うことで、硫酸銅五水和物の熱分解生成物の同定を行った事例を紹介します。測定の結果、熱分解が起こる温度で回折ピークが変化し、結晶構造が変化する様子を明瞭に確認できました。 MSTでは昇温しながらOut-of-plane XRD測定・In-plane XRD測定を行うことが可能です。
微小領域のXRD測定が可能
照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。 プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所（１）～（3）全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所（１）ではAu由来のピークが検出されました。XRFによる測定結果とよく一致しています。 このように組成や結晶性の異なる数百μmの領域を狙って結晶構造を同定することが可能です。 測定法：XRD・XRF 製品分野：LSI・メモリ・電子部品 分析目的：組成評価・同定・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
