蛍光X線分析（XRF）による受託分析サービス｜JTL
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
蛍光X線分析装置（XRF）を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置（XRF）は波長分散型X線分析法（WDX）を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法（EDX）よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析（判別）やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。
- 企業：JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社
- 価格：応相談
