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実用上ほぼすべての元素に対して元素分析が可能です！
当社が行っている「蛍光X線分析」についてご紹介します。 試料にX線を照射すると、試料に含まれる各元素から、それぞれの元素に 特有の波長を持つ蛍光X線が発生します。この波長から、元素の種類を 同定することができ、さらに蛍光X線の強度を測定することで、 各元素の濃度を定量的に求めることが可能です。 当社の装置はOやCといった軽元素の検出にも対応しており、 無機材料に加えて高分子材料など、幅広い試料の分析が可能です。 【分析に必要な試料】 ■微量の粉末試料や数mm程度の金属片等があれば定性分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料の元素分析！測定対象元素は周期表におけるナトリウムからウランまで
当社で行う、「蛍光X線分析」試験をご紹介いたします。 試料にX線を照射し、励起された各元素が基底状態に戻るときに発生する 元素固有のX線を測定することにより、含有されている元素を特定。 測定対象元素は周期表におけるナトリウムからウランまでです。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【試験詳細】 ■項目番号：K521 ■必要量：別途相談 ■規格番号：- ■対象油種：エンジン油、自動車用ギヤ油、工業用ギヤ油、機械油、 グリース、その他スラッジ・溶剤等 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。
走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが行えます。
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
蛍光X線分析装置（XRF）を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置（XRF）は波長分散型X線分析法（WDX）を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法（EDX）よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析（判別）やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。
