試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。
走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが行えます。
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基本情報
【特徴】 ○物質の表面構造を拡大観察 ○高分子材料の観察に広く使用 ○SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが可能 ●その他機能や詳細についてはお問い合わせください。
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DJKでは、機密保持のもと迅速・的確な対応にて お客様のあらゆるニーズにお応えいたします。DJKは、高分子材料・複合材料に関連した以下の業務を行っております。 １．合成・重合・改質反応 ２．混練・成形・試料加工 ３．材料試験・物性測定・分析業務 ４．技術コンサルティング ５．不良製品欠陥解析試験 ６．海外規格（FDA／EPA、DMF、生分解認証その他）の申請および試験委託