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In-Plane XRDによる薄膜の結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定が可能！
当社で行う「薄膜X線回折(XRD)」についてご紹介します。 数nmレベルの薄膜の結晶構造同定に加え、X線反射率測定による 多層膜の膜密度・膜厚・粗さの解析も可能。 平行性の良いX線を試料に極浅い角度で入射させることで、X線の 侵入深さを極めて浅くすることができ、In-Plane XRDによる薄膜の 結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定ができます。 【特長】 ■In-Plane XRD(面内回転測定) 数nmレベルの結晶性薄膜の評価 ■XRR(X線反射率測定) 膜密度・膜厚・(表面・界面)粗さの評価 ■一般的な薄膜法(θ固定2θ走査)も対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段！
当社で行う「高温XRDによる極薄膜の結晶性評価」についてご紹介いたします。 高温でのX線回折(XRD)は、各種材料の温度条件による相変化・化学反応・ 格子定数の変化を知るために有効な手段です。 添付のPDF資料にて、nmオーダの極薄膜の結晶構造の変化をIn-PlaneXRD＋ 高温測定で評価した事例をご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【高温＋In-Plane XRD 特長】 ■極低角でX線を入射して面内方向に検出器を走査させる方法 ■入射X線は表面から深くまで入らず、かつ表面に対して 垂直な回折面のみを検出することができる ■数nmの極薄膜についても結晶の情報を得ることができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
開発から品質管理まで！さまざまな形態の試料解析を可能にした超高性能のX線回折装置
多目的X線回折装置Empyrean（エンピリアン）に搭載された新開発MultiCore Opticsは、多様なサンプルを簡単な操作で測定することを可能にしました。 1つの装置で、粉末から薄膜、ナノ材料から固形物まで、原料が持つ様々な見どころを色々な角度でとらえる多目的XRD機能を搭載！ 標準構成にいくつかのスリットや分析ソフトウェアを追加しただけの単純なものから、専用の光学系、光源、および検出器を使用したトップパフォーマンス構成に至る様々な方法でアプリケーションを処理することができます。 【特長】 ■原料、処方違いの製品評価 ■未知試料や開発品を急いで解析したい時に強力サポート ■多様なサンプルの効率的な測定に好適 ■簡単操作 ■サンプルスループット30％以上向上 ■40％以上高い感度や速度で不純物検出 ■複数の測定条件の設定ミスや漏れの削減 ■ユーザートレーニング時間を30％短縮 ※詳しくはウェブサイトをご参照下さい。
【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XRD)!1％以下の低濃度の結晶相まで検出可能な高感度分析装置
スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。 薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。 今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。 新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。 また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、X線暴露の心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは今回のリニューアルでもしっかりと引き継がれています。 製品の詳細説明、測定事例のご紹介、お見積りのご要望などは是非お問合せください！
２次元検出器や多軸ステージの導入により材料分析メニューが充実しました
この度、当社では新たにＸ線回折装置を導入いたしました。 この装置は、大型２次元半導体検出器や大型多軸ステージを搭載し、 従来に比べ高効率、高精度の分析が可能になりました。 これにより粉末を対象とした分析に加え、 金属部品の微小部測定や高配向材料（結晶方位が制御された材料） の解析など、材料分析への適応範囲が拡大しました。 ここでは、腐食調査に関する分析例や新たに測定可能になった結晶方位解析に 関する分析事例をご紹介します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
リートベルト法でセラミックスの粉末回折データを精密化
セラミックス業界では、材料の特性を理解するために、結晶構造や相の同定が重要です。CrystalMakerでアルミナ、ジルコニア、窒化ケイ素などのセラミックス結晶構造を可視化し、CrystalDiffractで粉末X線回折の理論パターンを生成して実測データと照合することで、結晶相の同定や多相混合物の定量分析が可能です。焼結体の品質管理や新規セラミックス材料開発に活用できます。 【活用シーン】 ・セラミックス材料の相組成分析 ・焼結プロセスの最適化 ・熱処理による相変化の追跡 【導入の効果】 ・正確な相同定による材料特性の理解促進 ・製品品質の向上 ・研究開発の効率化 □詳しくはヒューリンクスのページへ□ https://www.hulinks.co.jp/software/crystaldiffract/ □リートベルト法による粉末回析データの精密化□ （ヒューリンクスのページへ） https://www.hulinks.co.jp/software/crystaldiffract/support/xrd/
リートベルト法で汚染物質の粉末回折データを精密化
環境科学分野では、土壌や水質などの汚染物質の特定と定量分析が不可欠です。CrystalMakerで土壌、堆積物、大気粉塵などに含まれる鉱物（粘土鉱物、酸化物、硫酸塩等）の結晶構造を可視化し、CrystalDiffractで粉末X線回折の理論パターンを生成して実測データと照合することで、鉱物種の同定や定量分析が可能です。汚染評価や環境モニタリング、修復対策の立案に活用できます。 【活用シーン】 ・土壌中の鉱物組成分析 ・水質中の微量物質の同定 ・廃棄物中の有害物質の特定 【導入の効果】 ・高精度なデータ解析による正確な汚染物質の特定 ・迅速な分析による問題解決時間の短縮 ・多相混合物の分析による包括的な汚染状況の把握 □詳しくはヒューリンクスのページへ□ https://www.hulinks.co.jp/software/crystaldiffract/ □リートベルト法による粉末回析データの精密化□ （ヒューリンクスのページへ） https://www.hulinks.co.jp/software/crystaldiffract/support/xrd/
