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X線散乱装置 - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products | IPROS GMS

X線散乱装置 Product List

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多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

多目的X線散乱装置 SAXSpoint 5.0

1台で超小角から広角まで測定できる多目的X線散乱システム

SAXSpoint 5.0は、世界最高峰の小角分解能とボタン1つでSAXS⇔WAXSを瞬時に切り替えられる使いやすさを兼ね備えた多目的X線散乱装置です。 コンパクトな装置に搭載された最高品質の光学系とX線源により、短時間で最大600 nmの構造を観測することができます。また、液体・固体のSAXS/WAXS測定だけでなく、GISAXS、 USAXS、 RheoSAXSなど様々な測定環境を構築できます。これにより、従来は観測が困難だった巨大な散乱体の構造や特殊な環境下での挙動を明らかにし、研究開発にブレークスルーをもたらします。 【特長】 ・ボタン1つで検出器がxyz方向に自由に移動 SlideMaster機能 ・非常に幅広いq範囲: 0.01 nm^-1 < q < 49.3 nm^-1 ・優れた温度制御範囲と精度:-150℃ ~ +600℃ (精度±0.1℃) ・様々な測定雰囲気: 真空/空気（乾燥・調湿）/不活性ガス ・メンテナンスフリーのマイクロフォーカスX線源 ・粉末、 フィルム、 繊維、 溶液、 ペーストなど最大20検体を連続測定

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小角X線散乱装置 SAXSpoint 500

小角X線散乱装置 SAXSpoint 500

お客様の実験に柔軟に対応！幅広いサンプルに対応するシステムにカスタマイズが可能

『SAXSpoint 500』は、クラス最高レベルのビームデリバリーシステム により、ルーチンサンプルにも対応できる小角X線散乱装置です。 カスタマイズ可能なテンプレートを使用してデータを分析し、慣性半径(Rg)、 粒子径・粒子分布、および比表面積、などのパラメーターを測定可能。 また、ルーチンタスクをすべて自動化することで、測定プロセスを高速化し、 SAXSdriveソフトウェアですべてのX線コンポーネントとサンプルステージを 調整することができます。 【特長】 ■お客様の実験に柔軟に対応 ■自動化によるプロセスの高速化 ■強力なソフトウェア ■必要なときにサポート ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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小角X線散乱装置 SAXSpace

小角X線散乱装置 SAXSpace

圧倒的なX線強度で液体/ペーストを素早く分析

SAXSpaceは、ラボ機最強クラスのX線源と高品質のクラツキー光学系を採用したハイスループット小角X線散乱装置です。 アントンパール社が1957年に世界で初めて開発した小角X線散乱装置の技術(クラツキーカメラ)は、これまで様々な研究分野で活躍してきました。SAXSpaceはその発展型の光学系と強力なX線源を搭載し、最大で直径1000? の分子集合体やナノ粒子を短時間で観測できます。これまでは放射光施設での測定が必要だった希薄な溶液試料でも、試料ダメージを気にせずいつでも自由に測定できます。 【特長】 ・ラボ機最強クラスのX線強度を誇るラインフォーカスX線ビーム ・優れたq範囲: 0.03 nm^-1 < q < 24.5 nm^-1(※1) ・優れた温度制御範囲と精度:-150℃ ~ +600℃ (精度±0.1℃) ・様々な測定雰囲気: 真空/空気（乾燥・調湿）/不活性ガス ・ポイントフォーカスX線ビームへの切替機構も標準搭載 ・溶液、ペースト、ゲル、粉末など様々な試料に対応 （※1 2次元検出器搭載で最大40.7 nm^-1）

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SAXS/WAXSシステム SAXSpoint700<新製品>

SAXS/WAXSシステム SAXSpoint700<新製品>

コンパクトなシステムで最高レベルの分解能を実現するシンクロトロン検出器技術を搭載！

『SAXSpoint700』は、空気散乱を低減する真空下測定だけでなく、 バイオ・ソフトマテリアルに適した大気雰囲気下測定など、様々な 試料や測定方法に柔軟に対応する多目的小角広角X線散乱装置です。 超小角モジュールにより観測可能な粒子径範囲を最大2.5μmまで拡大。 お客様の要件に合わせてシステムをカスタマイズすれば、 ナノ構造材料分析を簡単に行うことができます。 【特長】 ■サンプルのサイズとサイズ分布を取得できる ■生物学的ナノ構造の形状を把握できる(タンパク質研究など) ■1回の測定で、サンプルの比表面積の測定と空隙率の分析を実施 ■せん断などの外力を加えながら、サンプルのナノ構造配向の変化を観察 ■ナノ構造の順序をメゾスコピックスケールで分析できる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • スクリーンショット 2025-03-10 124120.png
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  • スクリーンショット 2025-03-10 124234.png
  • スクリーンショット 2025-03-10 124254.png
  • X線検査装置
  • X線散乱装置

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Isotope News『TRACER』に掲載されました

Isotope News『TRACER』に掲載されました

【掲載報告】Isotope News『TRACER』に掲載されました

この度、日本アイソトープ協会広報誌「Isotope News」のご依頼により、「小角散乱を用いた生きた細胞の微細構造解析」について寄稿しました。 寄稿文： 小角X線散乱による生きた細胞の微細構造センシング 著者名： 株式会社東レリサーチセンター　中田 克 北陸先端科学技術大学院大学　松村 和明 誌名： Isotope News 『TRACER』2025年4月号 No.798 p.22–25 https://www.jrias.or.jp/books/cat3/list.html 本誌では、細胞を生きたまま、さまざまな細胞外環境下でのナノスケールの細胞内微細構造を測定できる手法として、小角X線散乱を用いた評価例を紹介しています。

  • その他
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