VCSEL温特チップ/アレー/ウェハテスター
CCDカメラを搭載!
面発光レーザーVCSEL-LDのウェハ~チップをヒーターステージ上でプローブコンタクトし、I-L特性を計測する半自動装置
- Company:システム技研株式会社
- Price:応相談
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CCDカメラを搭載!
面発光レーザーVCSEL-LDのウェハ~チップをヒーターステージ上でプローブコンタクトし、I-L特性を計測する半自動装置
光学特性、電気特性を自動測定可能!マルチビームVCSELに対応したオートプローバです。
本装置はVCSELレーザーダイオードのWAFER状態で常温(20℃)~高温(95℃)環境下での電気特性、光学特性を自動で測定するLDテストウエハープローバです。 <特長> ■ウェハー状態でマルチビームVCSELの特性を自動測定します。 ■ ALPHAXの測定技術とMPIのVCSEL WAFER PROBERをドッキング。 ■ MPIは代表的な台湾のLEDプローバメーカーです。 ■ 測定項目は I-L, I-V, λ, NFP (OPTION), FFP (OPTION). 1台で各項目毎に連続測定を行います。 ■ 高速、高精度の計測を実現しました。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。