分光干渉式ウェハ厚み計 SI-F80R シリーズ
BG(バックグラインド)テープ付きでも、パターンがあっても、『真のウェハの厚み』がわかるウェハ厚み計
■ウェハの厚みが正確に測れる ■パターンの影響を受けにくい ■試作ウェハの評価時間を短縮
- 企業:株式会社キーエンス
- 価格:応相談
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BG(バックグラインド)テープ付きでも、パターンがあっても、『真のウェハの厚み』がわかるウェハ厚み計
■ウェハの厚みが正確に測れる ■パターンの影響を受けにくい ■試作ウェハの評価時間を短縮
Windows11対応!OCTにより、光学基板・レンズ・フィルム・ウェハ等の厚みを非接触で測定
当社で取り扱う、レンズ・フィルム・ウェハ厚み計『V-Gauge』をご紹介いたします。 光の干渉性を利用したOCT(Optical Coherence Tomography)を用いて、 光学基板やレンズ、フィルム、ウェハの厚みを非接触で測定。 サブミクロン単位の高精度な計測を実現し、群レンズにも対応しています。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■サブミクロン単位の高精度な計測を実現 ■群レンズにも対応 ■Windows11対応 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。