パルスパターン発生器 ビットエラーテスター
高密度マルチチャンネルのパルスパターン発生器及びビットエラー検出器です。光トランシーバーや光学電子部品での設計、特性評価に最適
高密度マルチチャンネル パルスパターン発生器・ビットエラーテスター 光学電子部品や光トランシーバーでの特性の評価、テスト、設計用のパルスパターンを高密度かつマルチチャンネルで発生させます。またビットエラー検出することが可能です。電気信号試験装置と光学試験装置を組み合わせることで、製造環境におけるエンドツーエンド（end to end）のトランシーバーの検証を効率的に行うことができます。 ●ビットエラーレートテスタ BERT 1000 シリーズ 最大14.5Gb/sのデータレートにおける光トランシーバー、光電気部品の設計・特性評価・製造向けの4チャンネルのパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器です。 ※詳しくはお問い合わせください。 ●PAM4 ビットエラーレートテスタ BERT 1102 シリーズ 8チャンネル PAM4およびNRZパルスパターン発生器（PPG）およびエラー検出器。最大29Gbaudのシンボルレートでの光トランシーバおよび光学電子部品の設計、特性評価、製造に使用いただけます。
- 企業：株式会社日本レーザー
- 価格：応相談
