構造テストとは？半導体・電子部品テストの基礎知識資料進呈
【構造テストの概要とメリットを分かり易く解説！】半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料を無料進呈中！
構造テストは、電子機器の「内部が正しく作られているか」を確認するためのテストです。 これは、機器がどう動くか（機能）をチェックするテストではなく、 内部の部品が正しく組み立てられているかを確かめるものです。 このテストのメリットは、複雑な回路を全部チェックするのではなく、 比較的簡単な部品をチェックすることに重点を置いている点です。 現在『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』を無料進呈中です。 構造テストの例や欠点など、より詳しい解説やその他基礎知識に関しても 分かり易く解説をしておりますのでぜひご確認ください。 【資料掲載内容（一部抜粋）】 ■ICコンポーネントテストとは何か？ ■特性評価テストとは何か？ ■欠陥とは何か？ ■欠陥モデルとは何か？ ※『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』はPDFダウンロードボタンよりご確認ください！
- 企業：Rochester Electronics, Ltd. 日本営業本部
- 価格：応相談
