【導入事例】JTAGテストと生産ラインのFA化を実現
JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
実装実験時に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。 インサーキットテスト(ICT)の検査率や直行率の低下に対しても、 当製品を導入することにより効果的に解決されました。 【事例】 ■コニカミノルタ電子株式会社(山梨県東部) ・複合機や、高度な医療機器などの高密度実装基板や樹脂成形品を生産 ■課題 ・インサーキット検査の検査率や直行率の低下 ・少量多品種製品における検査費用の向上 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：アンドールシステムサポート株式会社 自動テストソリューション事業部
- 価格：応相談
