ＭＥＭＳ スキャナ計測システム ＡＬＴ-9Ａ44
ＭＥＭＳスキャナ計測システム ＡＬＴ-9Ａ44
ＭＥＭＳ光学スキャナの光学電気特性を測定する 『ＭＥＭＳスキャナ計測システム ＡＴＬ-9A44』のご案内です。 【特長】 ・ＭＥＭＳ光学スキャナの光学・電気特性を測定 ・レゾナントタイプの共振特性やドリフトも測定可能 ・最大振り角計測には新方式の時間計測方式で検査タクトの短縮化 ・インターフェースは電磁駆動方式、静電駆動方式、ピエゾ方式のいずれも可能 ・コンパクト設計でインライン検査に最適 ※その他機能や詳細については、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
- Company：エーエルティー株式会社
- Price：応相談
