ラインスキャンカメラ『LiSa SWIR 2K 』
高温ガラス工程の外観・欠陥検査や、半導体ラインの欠陥・位置決め検査などに！SWIR 2K×1・110kHzの高速ライン検査
『LiSa SWIR 2048-M-STE2』は、0.9〜1.7µm帯を高感度に捉えるInGaAsラインスキャンカメラです。 2048×1画素・グローバルシャッタにより、フル解像度>110kHzの高速読出しと最短1µsの露光を実現。 14bit A/D（出力8/10/12/14bit）に対応し、ROIでスループットを最適化できます。 【特長】 ■ヒストグラムベースAGC、1点/2点NUC、欠陥画素補正、水平反転、ユーザープリセットを標準搭載 ■GenICam/GenCP準拠で既存検査ソフトとの親和性が高く、Camera Link Baseで堅牢に接続可能 ■6〜24V駆動、Cマウント、−40〜+71°C動作、調整式TECにより工場現場での安定運用を支援 （電源/トリガケーブル・12V電源同梱） ※詳しくはカタログダウンロードまたはお問い合わせください。
- 企業：クロニクス株式会社
- 価格：応相談
