【半導体向け】LID Less Socket
光学テストに好適！LIDレス構造で高速化を実現。
半導体業界では、イメージセンサーなどの高速化が進み、光学テストの重要性が増しています。従来のソケット構造では、加圧LIDが光の進入を妨げ、正確な測定を阻害する可能性があります。LID Less Socketは、真空で裏面からパッケージを引き付け、コンタクターを歪ませることで導通を確保。加圧LIDがないため、光の取り入れが自由になり、高速化に貢献します。 【活用シーン】 ・イメージセンサーの測定 ・光学的特性評価 ・高速データ転送が必要な半導体デバイスのテスト 【導入の効果】 ・光学テストの精度向上 ・ソケット設計の自由度向上 ・コスト削減の可能性
- Company：株式会社JMT
- Price：応相談
