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スペクトラムアナライザ×株式会社日本レーザー - 企業1社の製品一覧

製品一覧

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可視光-中赤外レーザー・スペクトラム・アナライザ 771シリーズ

1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)~中赤外(MIR)375nm ~ 12μm の波長域をカバー。

※高精度モデル・低価格モデルをご用意 ■1台でスペアナと波長計の機能を提供 ■高いスペクトル分解能: 2 GHz ■高い波長測定精度:±0.2ppm(モデルにより異なる) ■連続校正 ■高い光除去比:> 40dB ■可視~中赤外(375 nm to 12 μm) ■4シリーズを準備【 VIS: 375 – 1100 nm NIR: 520 – 1700 nm NIR2: 1 – 2.6 μm IR: 1 – 5 μm MIR: 1 – 12 μm】 ■高速スペクトル測定:2秒 (VIS NIR) or 1秒 (IR MIR) ■CW パルス両用 ■プリアライメント済みファイバ入力コネクタ付き(VIS NIR ver) ■フリースペース入力を補助するアライメントビーム出力(IR MIR ver) マイケルソン干渉計ベース。CWレーザー測定対応。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。 ※詳しくはPDFカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせください。

  • その他検査機器・装置

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中赤外パルス レーザー・スペクトラム・アナライザ772B-MIR

QCLに最適高い波長精度、高い光除去比 1〜12μmの波長域。パルスレーザー(>50Hz)やCWレーザーの測定可能。

マイケルソン干渉計技術と高速フーリエ変換分析を組合せ、1〜12μmの幅広い範囲動作を実現。スペクトル分解能は4 GHzで、波長精度は±10 ppm(8μmで±0.08 nm)、光除去比20 dB以上 ●パルス CWレーザーのスペクトル分析 ●動作範囲:1〜12μm ●スペクトル分解能:4 GHz ●高い波長精度:±0.08 nm @ 8 μm ±10 ppm ●高い光除去比:20 dB ※詳しくはPDFカタログをダウンロードいただくか、お問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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