CT8201 LDチップ対応 常温・高温ダイテスター
LIV・EA・スペクトルまで一台対応——完全自動、超高効率テスター、量産に不可欠
SemightのRT & HTダイテスター CT8201は、DFBレーザーやEML（Electro-absorption Modulated Laser）デバイスにおける常温および高温の2温度帯でのLIVスキャン／EAスキャン／スペクトルスキャンを一括で実行可能な高性能自動テストシステムです。 ■ 主な対応テスト・機能 順方向および逆方向の光電測定（フォトカレント／IV測定） 順方向スペクトル測定（発光スペクトル） 2温度ゾーン同時対応（2つの独立プラットフォームで常温／高温を並列測定） 高精度な熱制御・安定供給プローブ構造を搭載 ■ 生産性・精度・安定性 CT8201は、6つの全工程（ロード・搬送・認識・測定・分類）をわずか6秒以内で完了可能。 特にEML測定においては、測定項目構成によりさらなるスループット最適化が可能です。 また、偏心カム構造・高精度リニアモーター・高再現性ステッピング制御・高熱伝導チャック・高剛性プローブ構造などを採用しており、超高精度 × 超高安定性を両立し、量産向けダイ選別・信頼性試験に最適です。
- 企業：Semi Next株式会社 本社、三重事業所
- 価格：応相談
