テスト設計システム - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

【シリコンフォトニクス設計向け】テスト設計モジュール

テスト要件を設計段階から組み込むことが可能になります！

当社で提供している「Test Design Kit(TDK)」について ご紹介いたします。 シリコンフォトニクスおよびフォトニック集積回路(PIC)の 開発におけるウェーハレベルテスト設計を支援するモジュールです。 標準化されたテストテンプレートによりレイアウト設計を効率化し、 フォトニックチップのテスト設計を自動化します。 【特長】 ■テスト時間の短縮 ■テストコストの削減 ■バッチテスト効率の向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。