デバイス選別 - List of Manufacturers, Suppliers, Companies and Products | IPROS GMS

初期不良のデバイスを選別する「スイッチング試験」

通常の動作での寿命を予測！環境温度やスイッチング周波数等を任意に設定できる

当社で行っているパワー半導体における信頼性評価では、一般的な半導体の 評価試験とは別に個別試験が実施されます。 動作寿命試験として、パワーサイクル試験、連続通電試験、高低温逆バイアス 試験に加え、高低温下でのスイッチング試験が実施される場合があります。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■環境温度、印加電圧やスイッチング周波数を任意に設定可能 ■放熱対策などご要望に合わせた対応が可能 ■試験前後や途中取り出ししての電気特性測定も対応できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。