表面検査と透過検査を切り替えて使えるテレセントリックレンズ
可視光から1200nmまでの波長内でフォーカスシフトを補正し、照明の波長変更だけで表面検査と透過検査を切り替えて使える
可視光から1200nmまで、フォーカスシフトせずに撮像可能 SWIRとは? "見えないもの"を可視化。シリコンや樹脂など特定の素材を透過することができ、多様な検査に応用できる。 VS-TCM1-65CO/S-RIRなら、照明波長を変えるだけで異なる検査ができる。また、波長を変えてもピントが合ったまま撮像できる。 図面は弊社ホームページにて利用登録いただくと、ダウンロードいただけます。
- 企業:株式会社ヴイ・エス・テクノロジー 本社
- 価格:応相談