可視光から1200nmまでの波長内でフォーカスシフトを補正し、照明の波長変更だけで表面検査と透過検査を切り替えて使える
可視光から1200nmまで、フォーカスシフトせずに撮像可能 SWIRとは？ "見えないもの"を可視化。シリコンや樹脂など特定の素材を透過することができ、多様な検査に応用できる。 VS-TCM1-65CO/S-RIRなら、照明波長を変えるだけで異なる検査ができる。また、波長を変えてもピントが合ったまま撮像できる。 図面は弊社ホームページにて利用登録いただくと、ダウンロードいただけます。
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基本情報
MTF [30%の時]（lp/mm:解像力の単位） 中心 ：90 lp/mm 周辺 ：80 lp/mm (像高７割) 光学倍率 ：1.0x WD(mm) ：65 NA ：0.067 同軸落射照明：Built-in マウント：C-Mount
価格帯
納期
用途／実績例
【ウエハパターン】照明波長を変更してもフォーカスシフト補正でくっきり可視化
ラインアップ（1）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| VS-TCM1-65CO/S-RIR | 光学倍率1.0x |
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企業情報
見たいものをくっきりと。 計測・判別をしっかりと。 株式会社ヴイ・エス・テクノロジーは、レンズ事業25年以上の実績に 自社照明が加わり、レンズと照明を組み合わせた［高度なソリューション］をご提案。 見たいを、安定して、より精緻に撮像できます。 画像処理のソリューションもご提案しています。 レンズ、照明、画像処理を組み込むことで、 あなたの「 見たい 」は”もっと見える”
