ミクロトームによる受託サービス｜JTL
切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。
光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。 ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最適な試料調整サービスをご提供致します。 LEICA製 EM-UC7 ●倍率：9.6～77倍 ●観察角度：5°～25° ●カット速度：0.05～100mm/s ●断面厚さ：0～15,000nm
- 企業：JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社
- 価格：応相談
