マシンビジョンカメラ『JAI注目5機種』※カタログ進呈中
SWIR・3板カラー・超高解像度で、可視光では見えない欠陥や色差を検出。注目の5機種をご紹介します。 ※展示会出展
透明な包装材、ウェハ内部の欠陥、白色錠剤のわずかな色差、大型基板の微細な不良。 可視光の通常カメラでは見逃しやすい検査課題に、JAIのマシンビジョンカメラが応えます。 SWIR、3板プリズム分光、超高解像度など、検査対象に合わせて選べる5機種をご紹介します。 【こんな検査にご活用いただけます】 ■半導体ウェハの内部欠陥・アライメントマークの検出 ■青果・食品・包装のSWIR選別、ヒートシール部の検査 ■基板・錠剤・フラットパネルの色検査、微細不良の検出 ※製品のラインアップについては、ぜひ「基本情報」をご覧ください。 ※詳しくは無料進呈のカタログをダウンロードしてご覧ください。 ■展示会出展概要 ・展示会名：国際画像機器展2026 ・会期：2026年12月2日（水）～12月4日（金）10:00～17:00 ・会場：パシフィコ横浜 展示ホールD ・小間番号：決まり次第掲載いたします
- 企業：株式会社ジェイエイアイコーポレーション
- 価格：応相談
