SWIR・プリズム分光・超高解像度など最新マシンビジョンカメラ5機種を展示。検査の「見えない」を解決します
株式会社ジェイエイアイコーポレーションは「国際画像機器展2026」に出展します。 半導体・食品・電子部品・医薬品・フラットパネルなど、幅広い産業分野の検査課題に対応する最新カメラ5機種を展示予定です。 SWIR（短波長赤外線）、3CMOSプリズム分光、超高解像度など、可視光〜非可視光まで従来のカメラでは捉えきれなかった情報を可視化する技術を実機でご覧いただけます。 ぜひブースにお立ち寄りください。 ■展示会出展概要 ・展示会名：国際画像機器展2026 ・会期：2026年12月2日（水）～12月4日（金）10:00～17:00 ・会場：パシフィコ横浜 展示ホールD ・小間番号：決まり次第掲載いたします
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基本情報
■出展製品ラインアップ ・WAA-1300-GE-TEC（Waveシリーズ）： TEC冷却搭載のSWIRエリアスキャンカメラ。半導体アライメント、食品検査、包装検査に対応。 ・WAL-2001-GE（Waveシリーズ）： 独自のピクセルシフト技術で2K相当を実現するSWIRラインスキャンカメラ。 ・AP-5100Tシリーズ（Apexシリーズ）： 光をプリズムで3分光し、R/G/Bごとに全画素を捉える3板カラーエリアスキャンカメラ。約510万画素 × 3。 ・SP-105000M-CXPOF（Sparkシリーズ）： CoaXPress-over-Fiber（最大100Gbps）対応、100MP・100fpsを出力する高解像度・高速エリアスキャンカメラ。 ・SW-16000TL-TDI-CXP4A（Sweepシリーズ）： 16KトライリニアカラーのTDIラインスキャンカメラ。最大80kHzの高速スキャン。 ※すべて日本国内製造です。
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用途／実績例
■カメラの活用シーン例 ・半導体・ウェハ検査： SWIR透過性を利用したアライメントマーク検出、内部欠陥の非破壊検出 ・食品・農産物検査： SWIRによる打撲傷・水分ばらつき・熟度の非破壊検出 ・電子部品・PCB・基板検査： 3板カラーによる高精度な色判定、高解像度センサによる微細部品検査 ・医薬品品質管理： 3板カラーによる錠剤の色差・印字検査 ・フラットパネル・大型ディスプレイ検査： 16Kトライリニアカラーによる色ムラ・欠陥検出 ・その他、ライフサイエンス、ラベル・物流品質管理、印刷・ウェブ検査 など
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企業情報
ジェイエイアイコーポレーション（JAI）は、マシンビジョン、輸送、食品・飲料、航空宇宙、医療、科学市場に向けた高品質な産業用カメラを製造する企業です。 製品は安心の日本国内製造であり、その高い信頼性と確かな品質で世界中のお客様から選ばれています。 ◾️幅広い製品展開： 最大45メガピクセルの高性能プログレッシブスキャンCMOSカメラを中心に、エリア／ラインスキャン対応の画期的なマルチセンサー・プリズムブロックカメラなどを豊富に取り揃えています。 ◾️多様なインターフェース： Camera Link、GigE Vision、CoaXPress、USB3 Vision等のデジタル規格に加え、SFP+光ファイバー伝送にも対応しています。 ◾️ビジネス発展の支援： コスト削減や歩留まり向上、サービス改善など、多角的なアプローチでお客様のビジネスの発展を強力に支援します。 ◾️特殊交通システム： トラフィックソリューショングループが事業を担う世界有数のメーカーとして、自社製ハード・ソフトウェアとサードパーティ製品を統合したソリューションを提供しています。
