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金属上塗膜のピンホールを探知できます。 （対象塗膜厚さ1mm以上、探知電圧5～23kV）
■塗装膜、ライニング膜の防錆・防食上の欠陥を、膜を痛めることなく見つけることが目的です。 ■熱破壊を伴いやすい高周波を避け、低周波での測定。 ■消費電力を小さくし、電池仕様を可能にすることにより小型なポータブル化を実現。 ■被膜の劣化を考慮し、高電圧の印加時間を相対的に少なくするため、高電圧パルス方式を採用 ■人体への影響、被膜の損傷をさけるため、放電電流を抑えています。 ■被膜にかかる電圧の確認や、電圧調整ができる構造になっています。
金属上塗膜のピンホールを探知できます。 （対象塗膜厚さ1mm未満、探知電圧1～6kV）
■塗装膜、ライニング膜の防錆・防食上の欠陥を、膜を痛めることなく見つけることが目的です。 ■熱破壊を伴いやすい高周波を避け、低周波での測定。 ■消費電力を小さくし、電池仕様を可能にすることにより小型なポータブル化を実現。 ■被膜の劣化を考慮し、高電圧の印加時間を相対的に少なくするため、高電圧パルス方式を採用。 ■人体への影響、被膜の損傷をさけるため、放電電流を抑えています。 ■被膜にかかる電圧の確認や、電圧調整ができる構造になっています。
金属上塗膜のピンホールを探知できます。（対象塗膜厚さ1mm未満）
■塗装膜、ライニング膜の防錆・防食上の欠陥を、膜を痛めることなく見つけることが目的です。 ■熱破壊を伴いやすい高周波を避け、低周波での測定。 ■消費電力を小さくし、電池仕様を可能にすることにより小型なポータブル化を実現。 ■被膜の劣化を考慮し、高電圧の印加時間を相対的に少なくするため、高電圧パルス方式を採用。 ■人体への影響、被膜の損傷をさけるため、放電電流を抑えています。 ■被膜にかかる電圧の確認や、電圧調整ができる構造になっています。
金属上塗膜のピンホールを探知できます。（対象塗膜厚さ1mm以上）
■塗装膜、ライニング膜の防錆・防食上の欠陥を、膜を痛めることなく見つけることが目的です。 ■熱破壊を伴いやすい高周波を避け、低周波での測定。 ■消費電力を小さくし、電池仕様を可能にすることにより小型なポータブル化を実現。 ■被膜の劣化を考慮し、高電圧の印加時間を相対的に少なくするため、高電圧パルス方式を採用。 ■人体への影響、被膜の損傷をさけるため、放電電流を抑えています。 ■被膜にかかる電圧の確認や、電圧調整ができる構造になっています。
コンクリート構造物上に施工された絶縁性被膜のピンホールを探知できます。電気的に非破壊で可能になりました。
コンクリート構造物上に施工された絶縁性被膜のピンホールを探知できます。電気的に非破壊で可能になりました。
