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波形解析装置の100MHzサンプリングに対応する高速仕様！
株式会社ANSeeNにて取り扱う半導体検出器用プリアンプ『CSP02』について、 ご紹介いたします。 CdTe検出器等の低漏洩電流、低容量用検出器用のプリアンプで、AC結合の 電荷有感型前置増幅器で構成。 波形解析装置の100MHzサンプリングに対応する高速仕様(立ち上がり10ns以下)で、 半導体検出器内の電荷移動の解析にもお使いいただけます。 【主な性能】 ■雑音：350 electrons FWHM at 0pF ■ゲイン：1 V/pC ■立ち上がり時間：6ns at 0pF ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
遠隔計測用の半導体検出器用プリアンプとして使用可能！
株式会社ANSeeNにて取り扱う小型プリアンプ『CSP04シリーズ』について、 ご紹介いたします。 CdTe検出器等の半導体検出器用のプリアンプで、3cm×3cm×9cm(突起部除く)と 小さな筐体のため、狭い空間に設置可能。 また、接続にRJ45ケーブルを採用し、10m超の遠隔地から測定を行えます。 帰還容量やバイアス抵抗、バッファ利得は検出器に合わせたカスタムとなります。 【仕様(一部)】 ■電源：＋/-12V(RJ45コネクタ) ■検出器接続端子：BNCコネクタ ■検出器バイアス入力：内蔵またはRJ45コネクタ ■出力端子：RJ45コネクタ(50Ω終端) ■テストパルス入力端子：なし ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
光電子増倍管の出力延長用と光電子増倍管の出力整形用をラインアップ！
株式会社ANSeeNにて取り扱う「光電子増倍管用プリアンプ」について、 ご紹介いたします。 光電子増倍管の出力延長用の「AMP01(旧型番AMP-BNC-01)」と 出力整形用の「AMP03(旧型番AMP-BNC-03)」をラインアップ。 利得は「AMP01」が10V/V@50Ω 0.5mV/uA@50Ω、 「AMP03」が10mV/pC@HiZです。 【AMP01 主な仕様(一部)】 ■利得：10V/V@50Ω 0.5mV/uA@50Ω ■立ち上がり時間：5ns以下 ■-3dB帯域：100Mhz ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
半導体検出器、遠隔測定などの用途に好適！筐体サイズは3cm×3cm×9cm
株式会社ANSeeNにて取り扱う「小型プリアンプ」について、 ご紹介いたします。 型番はCSP04、用途は半導体検出器、遠隔測定。 筐体サイズは3cm×3cm×9cm(突起部含まず)。 主な仕様はRJ45ケーブルによる10m超の遠隔測定です。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【概要(一部)】 ■型番：CSP04 ■用途：半導体検出器、遠隔測定 ■主な仕様 ・RJ45ケーブルによる10m超の遠隔測定 ・筐体サイズ3cm×3cm×9cm(突起部含まず) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
用途はCdTe検出器等の低漏洩電流、低容量用検出器用です！
株式会社ANSeeNにて取り扱う「半導体検出器用プリアンプ」について、 ご紹介いたします。 型番はCSP-BNC-01、用途はCdTe検出器等の低漏洩電流、低容量用検出器用。 雑音 3.0keV FWHM@0pF 5.0keV FWHM@100pF with CdTeといった仕様です。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【概要(一部)】 ■型番：CSP-BNC-01 ■用途：CdTe検出器等の低漏洩電流、低容量用検出器用 ■主な仕様：雑音 3.0keV FWHM@0pF 5.0keV FWHM@100pF with CdTe ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
