半導体検査用部品『プローブカード』
半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード
『プローブカード』は、半導体の製造工程の中で、ウエハーテストとよばれる 電気的な検査を行う工程で用いられます。 当社の主力製品「アドバンストプローブカード(Mタイププローブカード)」は、 半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに 優れています。 スマートフォンにも搭載されているDRAMやNAND型フラッシュメモリー等の 検査に使われています。 【特長】 ■マイクロチップを同時に多数測定することに優れている ■DRAMやNAND型フラッシュメモリー等の検査に使用可能 ■MEMSとよばれる高度な技術も用いられている ※お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本電子材料株式会社
- 価格：応相談
