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半導体検査用部品『プローブカード』

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最終更新日:2021年04月19日

日本電子材料株式会社
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半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに優れたプローブカード

『プローブカード』は、半導体の製造工程の中で、ウエハーテストとよばれる 電気的な検査を行う工程で用いられます。 当社の主力製品「アドバンストプローブカード(Mタイププローブカード)」は、 半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに 優れています。 スマートフォンにも搭載されているDRAMやNAND型フラッシュメモリー等の 検査に使われています。 【特長】 ■マイクロチップを同時に多数測定することに優れている ■DRAMやNAND型フラッシュメモリー等の検査に使用可能 ■MEMSとよばれる高度な技術も用いられている ※お気軽にお問い合わせ下さい。

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半導体検査用部品『プローブカード』

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日本電子材料株式会社は1960年、ブラウン管用カソード・ヒータを主力製品として設立し、今日のベンチャー企業の草分け的な存在として業界をリードしてきました。1965年にはタングステン製の蛍光文字表示用電子管を世界で初めて開発、さらに半導体ウエハテスト用のプローブカードを開発し、生産を開始しました。 以後、プローブカード事業を中心に国内拠点の拡充とアメリカ、ヨーロッパ、アジアでの拠点を拡充し、グローバルな展開を行っています。常に技術開発に軸足を置き、他社に先駆けて新製品を世に出してきました。とくにVCシリーズ(垂直接触型プローブカード)、VSシリーズ(垂直スプリング接触型プローブカード)をはじめとする最先端のプローブカードで、世界のリーディングカンパニーを目指しています。 従業員一人ひとりが自分の仕事に誇りを持てるような「夢のある会社」、世界に目を向けて成長し続ける「創造型企業」を目指して全社員が日々挑戦し続けます。

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