半導体検査/試験装置の製品一覧

  • 分類:半導体検査/試験装置

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高 性 能 か つシンプ ル なストリップ マシン

  • その他加工機械

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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多様なソケットフタ・優れた操作性

  • 試験機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えない半導体テストソリューション!

  • スクリーンショット 2025-09-25 112038.png
  • 20250909_161104.jpg
  • 半導体検査/試験装置
  • プリント基板

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半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット!高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは?動作原理等の技術資料を進呈!

  • 20250909_161104.jpg
  • スクリーンショット 2025-10-22 145309.png
  • スクリーンショット 2025-10-22 145328.png
  • その他電子部品
  • ソケット
  • 半導体検査/試験装置

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224Gbpsまでの高速テストに対応可能の金属製同軸テストソケット

  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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電子機器の量産に適したデータ書込みと書込み作業の自動化、品質向上、作業履歴のトレースに最適

  • 半導体検査/試験装置

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お客様のご要望に応じて、カスタマイズ設計・製作可能!

  • 半導体検査/試験装置
  • その他検査機器・装置

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半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!

  • ロードポート対応膜厚測定システム2.png
  • ロードポート対応膜厚測定システム3.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 膜厚計

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高安定、高精度ひずみ測定用アンプでかんたん設定を実現!インバータノイズに強いタイプもご用意

  • ?DPM-900 Series 画像2.png
  • その他計測・記録・測定器
  • 半導体検査/試験装置
  • 衝撃試験

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パッケージレベルとウェーハレベルで複数のDUTを一括処理!FET単体トランジスタ特性からTDDB評価にも対応

  • 半導体特性評価システム2.png
  • 半導体特性評価システム3.png
  • 半導体特性評価システム4.png
  • 半導体特性評価システム5.png
  • 半導体特性評価システム6.png
  • その他半導体
  • 環境試験装置
  • 半導体検査/試験装置

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長期保存/評価試験に好適なタイプ、卓上型タイプ、リーズナブルタイプをラインアップ!

  • 16a.png
  • 16b.png
  • その他 恒温器・恒温槽
  • 半導体検査/試験装置
  • 恒温槽

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ミクロンからサブミクロンへ!Burn-in Chanberが追及する極限への信頼性

  • バーンインチャンバー『RBC』2].jpg
  • 半導体検査/試験装置
  • プリント基板
  • 基板設計・製造

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高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他 衛生検査
  • その他 外観・画像検査装置

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高密度・多ピン検査に対応。大型HDI基板やインターポーザ向けの高精度導通絶縁検査を実現します。

  • 半導体検査/試験装置

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【表面の異物・汚れ・傷を可視化!】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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金属イオン溶出ゼロ。接液部オールPTFE構造で、医薬・半導体プロセスの汚染リスクを徹底排除する高洗浄性コネクタ

  • IMG_9517.jpg
  • 半導体検査/試験装置

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第28回 インターフェックスジャパン」出展のお知らせ

2026年5月20日~22日に開催される展示会「第28回 インターフェックスジャパン」に、 オートコネクタ・配管自動切換装置・Quitto・電子聴音棒を出展します。 ブースにはオートコネクタと配管自動切換装置のデモ機を展示しておりますので、実際にコネクタが自動で調芯し配管が着脱する様子をご覧いただけます。Quitto体験コーナーでは新商品「Quitto」によるワンアクションでの簡単着脱をお手に取り実感いただけます。 また、「音」をデータ化・見える化する診断装置:電子聴音棒 Kirari MUSEの実物も展示しております。 工場の自動化に興味がある方、自動化でお困りの方、へルールクランプの煩わしさを解消したい方、異音診断でお悩みの方は是非お立ち寄りください。 皆さまのご来場を心からお待ちしております。 「第28回 インターフェックスジャパン」 日時: 2026年5月20日(水)、5月21日(木)、5月22日(金) 10:00~17:00 会場: 幕張メッセ(ブース番号:30-27) 出展内容: 粉体用オートコネクタ、配管自動切換装置、「Quitto」、電子聴音棒

ダイコー株式会社様の導入事例。全社共通のデータの活用で、業務効率化を実現!

  • 半導体検査/試験装置

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広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好適な超高画素カメラ (127M/250M/400M)

  • モノクロカメラ
  • カラーカメラ
  • 半導体検査/試験装置

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エラストマーシールから置換!PFASフリー!当社のメタルシールをご紹介

  • 半導体製造装置用高機能メタルシール『ヘリコフレックスシール』2.JPG
  • シール・密封
  • CVD装置
  • 半導体検査/試験装置

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半導体搬送機、測定装置の保守のコストダウンによる装置の長期維持に貢献!

  • 半導体検査/試験装置

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USB3.2 10Gbps 500万画素 SWIRモデル

  • モノクロカメラ
  • 半導体検査/試験装置

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25枚のウェハを、1度にキャリアやボートに移載させる装置

  • 半導体検査/試験装置

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バラバラになったウェハーをロットナンバー順に整列させる装置

  • 半導体検査/試験装置

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0.005mm(5μm)の外形研磨加工で、もの作りを支えます。センタレス仕上げ快削リン青銅丸棒

  • プローブ
  • 半導体検査/試験装置
  • 非鉄金属

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ナノメートル精度のポジショニングステージ。半導体検査装置、半導体製造装置に!

  • 550x550_N2_02.jpg
  • 半導体検査/試験装置

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iprosニュース用.jpg

【2026年6/10(水)~6/12(金)】JISSO PROTEC 2026 出展のお知らせ

本展では、拡大を続ける電子・半導体産業のものづくりを支えるトータルソリューションをご紹介します。 PLP工程に対応したナノ精度位置決めステージをはじめ、半導体製造関連装置との組み合わせに最適なウエハロード・アンロードシステムなどをご覧いただけます。さらに、コンパクトかつ高トルクを実現するダイレクトドライブモーター「DMTシリーズ」も展示いたします。

高速フォーカス・高精度検出、ウエハ反りなどによる焦点誤差を解消!

  • 半導体検査/試験装置

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【2026年1/21(水)~1/23(金)】第40回 ネプコン ジャパン 出展のお知らせ

ハイウィン株式会社は、東京ビッグサイトにて開催される 第40回 ネプコン ジャパン に出展いたします。 本展では、PLP工程に対応したナノ精度位置決めステージや、ウエハ検査に活用いただける多軸位置決めステージをご紹介いたします。また、当社主力製品のリニアガイドウェイは、半導体製造装置に最適な「ステンレス製リニアガイドウェイ」もご覧いただけます。

半導体製造工程の効率化と品質向上に貢献。専用部品がないのでメンテナンスしやすく、早期復旧が可能です。低コストを実現しています。

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  • 半導体検査/試験装置

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一貫して提供します!電子部品・電子モジュール・電子機器検査装置

  • 半導体検査/試験装置

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TD-GC/MSにより部材に付着した微量の有機汚染を分析します。

  • 受託測定
  • 半導体検査/試験装置

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世界で実際に導入されたプロセス分析計 / オンライン分析計の導入事例集!

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  • 分析機器・装置
  • 水分測定装置
  • 半導体検査/試験装置

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全てのAMCカテゴリーの検出を高感度で実現できます

  • 半導体検査/試験装置

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高速画像処理と独自開発リペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行

  • 半導体検査/試験装置

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実装前にチップの全数外観検査を行うことで後工程のロス低減&歩留まり向上!モジュール組立ての受入れ検査、スクリーニングに最適!

  • 半導体検査/試験装置

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独自の画像処理と実績を重ねたリペアユニットにより確実なはんだボールリペアを実行

  • 半導体検査/試験装置

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高速画像伝送・長距離配線に対応。1000万画素/2100万画素をラインアップ。

  • 半導体検査/試験装置

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AEC-Q101、AQG324、JESD22などの信頼性規格に準拠した試験が可能!

  • 試験機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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ステージ上のパーティクルをインラインクリーニング ウェハ型ステージクリーナー

  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置
  • その他清掃用具

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小型の超短パルス50fsレーザー!不純物や欠陥などの検査システムの光源に!

  • 半導体検査/試験装置

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熱反射×レーザー技術で、LITでは検出が難しかった金属層下の発熱箇所を2μmまで絞り込み、発熱解析の限界を突破します。

  • TD imaging sub2.png
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  • ThermoDynamic Imaging 2枚.png
  • 半導体検査/試験装置
  • 欠陥検査装置

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イオンクロマトグラフィーによる半導体製造用【高濃度水酸化ナトリウム】溶液中の陰イオンの定量

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  • ウエハー
  • 分析機器・装置
  • 半導体検査/試験装置

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