半導体検査/試験装置の製品一覧
- 分類：半導体検査/試験装置
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１００万回繰り返しても壊れない！確実動作と高耐久性・低価格のマットスイッチ。工作機械のオプションなどにも。納期ご相談ください。
- センサ
【表面の異物・汚れ・傷を可視化！】歩留り管理、品質管理、清掃管理、衛生管理の日常管理ツールとして好評です。※デモ機貸出中
- 外観検査装置
- 半導体検査/試験装置
- 欠陥検査装置
第17回 高機能素材 WEEK [東京] 『第17回 高機能フィルム展』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.9.30.(水)-10.02.(金)/幕張メッセ 2ホール)
自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス（生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等）の受託業務を国内外で展開しています。 フィルム製造工程において問題となる微細異物、静電気起因の粒子付着、クリーン度のばらつきなどを“見える化”し、原因特定から対策立案まで一貫して支援いたします。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・塗工・乾燥工程における異物混入および付着メカニズムの可視化 ・ロール搬送時の発塵・再付着の可視化と対策検討 ・クリーンブース／クリーンルーム内の気流・清浄度評価 ・製造装置内の発塵源特定およびクリーン化推進 ・フィルム表面の異物付着リスク低減および歩留まり改善
高感度検出・定量化・可搬性に優れ、品質検査や研究開発の現場に好適。微小な付着異物や傷の検出とその定量評価に貢献いたします。
- 半導体検査/試験装置
- その他 衛生検査
- その他 外観・画像検査装置
第17回 高機能素材 WEEK [東京] 『第17回 高機能フィルム展』に微粒子可視化システムを出展いたします。(2026.9.30.(水)-10.02.(金)/幕張メッセ 2ホール)
自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス（生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等）の受託業務を国内外で展開しています。 フィルム製造工程において問題となる微細異物、静電気起因の粒子付着、クリーン度のばらつきなどを“見える化”し、原因特定から対策立案まで一貫して支援いたします。 以下は適用例の一部ですが、私達の技術を用いることで、微細な異物による不良率の悪化、清浄気流の見える化、現場のクリーン化に関する悩み、といった諸問題の解決を強く推し進めることができます。 ・塗工・乾燥工程における異物混入および付着メカニズムの可視化 ・ロール搬送時の発塵・再付着の可視化と対策検討 ・クリーンブース／クリーンルーム内の気流・清浄度評価 ・製造装置内の発塵源特定およびクリーン化推進 ・フィルム表面の異物付着リスク低減および歩留まり改善
EV制御向けパワーデバイスの性能を最大限に引き出す電気特性検査システム
- テスタ
- 半導体検査/試験装置
- 試験機器・装置
大塚化学株式会社は、株式会社グーテンベルク・hakkai株式会社と共同で「第1回 高機能マテリアル展」に出展いたします。
- 半導体検査/試験装置
- 複合材料
- 製造受託
イオンクロマトグラフィーによる半導体製造用【高濃度水酸化ナトリウム】溶液中の陰イオンの定量
- ウエハー
- 分析機器・装置
- 半導体検査/試験装置
切削加工では困難な超高精度を実現。内外面めっきによる低抵抗化で、半導体検査プローブの長寿命化や医療用部品の課題を解決します。
- 半導体検査/試験装置
多点・非接触での変位計測！精度は格子ピッチの約1/100です
- 監視カメラ
- 半導体検査/試験装置
- 試験機器・装置
高安定、高精度ひずみ測定用アンプでかんたん設定を実現！インバータノイズに強いタイプもご用意
- その他計測・記録・測定器
- 半導体検査/試験装置
- 衝撃試験
パッケージレベルとウェーハレベルで複数のDUTを一括処理！FET単体トランジスタ特性からTDDB評価にも対応
- その他半導体
- 環境試験装置
- 半導体検査/試験装置
長期保存/評価試験に好適なタイプ、卓上型タイプ、リーズナブルタイプをラインアップ！
- その他 恒温器・恒温槽
- 半導体検査/試験装置
- 恒温槽
ミクロンからサブミクロンへ！Burn-in Chanberが追及する極限への信頼性
![バーンインチャンバー『RBC』2].jpg](https://image.mono.ipros.com/public/product/image_sub/aa9/2001534723/IPROS11916578221523959181.jpg?w=280&h=280){kind=small}
- 半導体検査/試験装置
- プリント基板
- 基板設計・製造
半導体後工程検査にて安定した検査が可能なシートソケット！高速・高密度測定を可能にする「PCR」とは？動作原理等の技術資料を進呈！
- その他電子部品
- ソケット
- 半導体検査/試験装置
組み込まれた水蒸気バリアが保温材下腐食（CUI） のリスクを低減
- 配管材
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
過剰検出でお悩みの製造現場へ。AI解析×フルカラー画像検査でウエハの微細な欠陥を正確に判定、歩留まり向上を実現する検査装置です。
- 半導体検査/試験装置
- ウエハー
- 基板検査装置
0.005mm（5μm）の外形研磨加工で、もの作りを支えます。センタレス仕上げ快削リン青銅丸棒（Φ1.0）
- プローブ
- 半導体検査/試験装置
- 非鉄金属
半導体・電子部品用像質計『Semiconductor Wire IQI』を2026年7月30日に販売開始
非破壊検査機器を販売する株式会社NDTアドヴァンスは、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を確認するためのSemiconductor Wire IQI（半導体・電子部品用像質計）の販売を、2026年7月30日に開始します。 Semiconductor Wire IQI（半導体・電子部品用像質計）は、ASTM E801に基づき、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を確認するためのIQIです。透明アクリル樹脂、シム材、鉛粒子、タングステンワイヤ、鉛製識別番号で構成され、検査対象となる電子部品の透過条件に合わせて使用します。
JASIS2026へ出展します
2026年9月2日（水）から4日（金）まで、幕張メッセで「JASIS 2026」が開催されます。 大塚電子ではゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo、光波動場三次元顕微鏡 MINUK等の弊社製品を展示します。 ぜひ弊社ブースにて実機をお近くでご覧ください。 皆様のご来場をお待ちしております。
金属イオン溶出ゼロ。接液部オールPTFE構造で、医薬・半導体プロセスの汚染リスクを徹底排除する高洗浄性コネクタ
- 半導体検査/試験装置
第28回 インターフェックスジャパン」出展のお知らせ
2026年5月20日～22日に開催される展示会「第28回 インターフェックスジャパン」に、 オートコネクタ・配管自動切換装置・Quitto・電子聴音棒を出展します。 ブースにはオートコネクタと配管自動切換装置のデモ機を展示しておりますので、実際にコネクタが自動で調芯し配管が着脱する様子をご覧いただけます。Quitto体験コーナーでは新商品「Quitto」によるワンアクションでの簡単着脱をお手に取り実感いただけます。 また、「音」をデータ化・見える化する診断装置：電子聴音棒 Kirari MUSEの実物も展示しております。 工場の自動化に興味がある方、自動化でお困りの方、へルールクランプの煩わしさを解消したい方、異音診断でお悩みの方は是非お立ち寄りください。 皆さまのご来場を心からお待ちしております。 「第28回 インターフェックスジャパン」 日時： 2026年5月20日(水)、5月21日(木)、5月22日(金) 10:00～17:00 会場： 幕張メッセ（ブース番号：30-27） 出展内容： 粉体用オートコネクタ、配管自動切換装置、「Quitto」、電子聴音棒
電気検査後の基板ダメージを見逃さない！高精度画像検査で微細な打痕・キズを早期検出し、不良流出と治具損傷を防止。
- 探傷試験
- 基板検査装置
- 半導体検査/試験装置
測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現！
- テスタ
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
量産前提だったビルドアップSAP技術を、開発に最適な極小ロットから提供！
- 基板設計・製造
- プローブ
- 半導体検査/試験装置
総合位置決め精度±2.5µm！大型・多ピン半導体パッケージ基板の検査に最適な高精度検査装置
- 半導体検査/試験装置
- その他検査機器・装置
- 基板検査装置
上下最大112Kp対応！大型HDI基板の多ピン・高精度検査を実現
- 半導体検査/試験装置
- その他半導体製造装置
- 基板検査装置
イオンクロマトグラフで中和とマトリックス除去を伴う濃縮工程を自動化して半導体製造で使用する高純度水酸化アンモニウムの不純物を測定
- 分析機器・装置
- イオンクロマトグラフ
- 半導体検査/試験装置
上下総合48Kポイント対応！大判フルパネル基板（500×620mm）の多面付け一括・高速検査ソリューション
- 半導体検査/試験装置
- 基板検査装置
Fullパネルサイズ対応！最大ポイント数24Kch対応の大容量かつ高速・高精度の検査ソルーション
- 半導体検査/試験装置
Fullパネルサイズ対応！最大ポイント数24Kch対応の大容量かつ高速・高精度の検査ソルーション
- 半導体検査/試験装置
半導体産業向け：プロセス分析計 / オンライン分析計で現像液中の水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)をモニタリング
- 分析機器・装置
- ウエハー
- 半導体検査/試験装置
半導体製造向け過酸化水素中のトリメチルアミンと標準陽イオンをイオンクロマトグラフィーで測定
- イオンクロマトグラフ
- 半導体検査/試験装置
- 分析機器・装置
半導体製造プロセスの工程と品質管理に欠かせない分析法を紹介した技術資料
- ウエハー
- 半導体検査/試験装置
- 半導体・IC
AIと分析技術を活用し、付加価値の高い解析サービスを提供します。
- 受託解析
- 受託解析
- 半導体検査/試験装置
フルカラー外観検査装置「AURCAシリーズ」
- 半導体検査/試験装置
- 外観検査装置
- 基板検査装置