測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現!
弊社の『R-5920MK2』および『R-5940A』は、MLCC(積層セラミックコンデンサ)やIPD(集積受動デバイス)などの電子部品検査において、圧倒的な効率化と高速化を実現する多ピン対応の高速テスターです。お客様の検査ニーズに合わせて2つの新モデルを展開しています。 【R5920MK2】 ■4W検査速度UP:スキャンユニットに「指定ポイント出力引き込み機能」を追加。一括で確実な判定 ■コンタミクリーニング機能改善:クリーニング電流を100mA~200mAまで自由に変調および制御可能 ■64基のLCRメーターによる同時並列検査:スキャナーカード自体にLCRメーターを直接内蔵 ■測定速度大幅アップ:従来のテスターと比較して静電容量の測定速度アップを達成 ■消費電直の計測に対応:MEMSマイクIC等をコントロールし、消費電力の測定が可能です。
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当社の検査対象分野は、プリント基板や半導体パッケージ、ディスプレイパネルなど。IT化の進展でますます成長する情報通信機器や普及著しいデジタル家電のコア部品です。プリント基板・半導体パッケージ・ディスプレイパネルは、目を見張るようなスピードで進化し、検査においてもより高精度な技術が求められます。当社は最先端の技術が要求されるこれらの検査分野において高いシェアを占め、「デファクト・スタンダード(業界標準)」と認知されるような製品を数多く世界中に送り出しています。










