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ICマルチファンクション検査対応！自社開発によるLCRメーター搭載
『R-5940』は、IC Embedded基板に特化したスーパーテスタです。 高速な導通・短絡測定、μΩ精度と高速検査の4端子測定、all-CH LCR測定 に加え、高精度のIC検査で多様化するニーズにお応えします。 最大16個のSMUを電源並びに電子負荷としてDUTに接続することでパワー ON/OFFのシーケンスを実現しており、SMUを自由に組合せたDUT測定が可能です。 【特長】 ■高速検査 ■高精度 ■IC Embeddedに特化 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現！
弊社の『R-5920MK2』および『R-5940A』は、MLCC（積層セラミックコンデンサ）やIPD（集積受動デバイス）などの電子部品検査において、圧倒的な効率化と高速化を実現する多ピン対応の高速テスターです。お客様の検査ニーズに合わせて2つの新モデルを展開しています。 【R5920MK2】 ■4W検査速度UP：スキャンユニットに「指定ポイント出力引き込み機能」を追加。一括で確実な判定 ■コンタミクリーニング機能改善：クリーニング電流を100mA~200ｍAまで自由に変調および制御可能 ■64基のLCRメーターによる同時並列検査：スキャナーカード自体にLCRメーターを直接内蔵 ■測定速度大幅アップ：従来のテスターと比較して静電容量の測定速度アップを達成 ■消費電直の計測に対応：MEMSマイクIC等をコントロールし、消費電力の測定が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
