半導体テスタ MLCCs及びIPDs向け高速テスタ
測定条件の拡張と64基のLCRメーター内蔵で、検査の高速化・高精度化を実現！
弊社の『R-5920MK2』および『R-5940A』は、MLCC（積層セラミックコンデンサ）やIPD（集積受動デバイス）などの電子部品検査において、圧倒的な効率化と高速化を実現する多ピン対応の高速テスターです。お客様の検査ニーズに合わせて2つの新モデルを展開しています。 【R5920MK2】 ■4W検査速度UP：スキャンユニットに「指定ポイント出力引き込み機能」を追加。一括で確実な判定 ■コンタミクリーニング機能改善：クリーニング電流を100mA~200ｍAまで自由に変調および制御可能 ■64基のLCRメーターによる同時並列検査：スキャナーカード自体にLCRメーターを直接内蔵 ■測定速度大幅アップ：従来のテスターと比較して静電容量の測定速度アップを達成 ■消費電直の計測に対応：MEMSマイクIC等をコントロールし、消費電力の測定が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
