テスタの製品一覧

  • 分類:テスタ

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【重量物の取り扱いによる作業負担を軽減!】お客様の課題を解決した導入事例5選を収録!ワークに応じた無料相談、テストも受付中!

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  • その他搬送機械

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室温から-13°Cの強冷風!ご使用環境によりコンボタイプかセパレートタイプを選択可能!

  • 冷却装置

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2024/4/10(水)~2024/4/12(金)名古屋 ものづくり ワールド 2024出展のご案内

三和式ベンチレーター株式会社は、ポートメッセなごやで開催される 2024ものつくりワールド(名古屋)に出店いたします。 弊社も大型冷風機、涼暖ビエントの展示をおこないます。 日時:2024/4/10~2024/4/12    開場:AM10:00~ 場所:名古屋ポートメッセ(第1展示会場) ※弊社ブース:19-1 お時間が御座いましたら、ご来場頂ければ幸いです。

テスタ本体の増設も容易!高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート

  • テスタ
  • その他半導体

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脳波計の同相信号除去比とシステムノイズテスト用に設計!

  • テスタ

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強化された耐性による15秒間隔での集中的ショックテストが生産性を向上!

  • テスタ

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反射型PPG製品の開発に好適!RとIRのアナログ信号を出力

  • 反射型SpO2モジュール2.jpg
  • テスタ

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システム検証とソフトウェアのアルゴリズムの評価の為に設計!

  • テスタ

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フィンガークリップオキシメータや患者モニタなどの開発に好適なテスタ!

  • PPG-2TF-660 2.02.jpg
  • テスタ

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パフォーマンステスト用に設計された心電図シミュレーター!

  • シミュレーター
  • テスタ

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正確さ、利便性そしてテストの自動化をひとまとめにしました!

  • テスタ

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PCIeケーブルBERTと3.2Tロードマップを初公開。1.6T対応BERT・DCA、高精度SMUも実機デモ展示。

  • オシロスコープ
  • テスタ

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【2026年4月22日(水)~24日(金)】「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」出展のお知らせ

当社は、パシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26(OPTICS PHOTONICS International Exhibition 2026)」に出展いたします。 当社ブースでは、PXIe/ベンチトップSMUと1.6T対応DCA/BERTを実機デモ展示。 LDテスト(Chip Tester:ダイ、CoC Tester:CoC、CoCバーンイン)をはじめ、 CPO(PIC/OEハンドラ)、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRまで用途別に提案します。 また、3.2Tロードマップもご紹介いたしますので、ぜひご来場ください。

Per-Pinアーキテクチャ採用で従来のシリアルテスタと比較して50%以上高いスループットを実現!

  • テスタ

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

8インチから12インチまでのウェーハに対応した高性能ウェーハレベルテストシステム!

  • テスタ

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

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Yonata Electronics株式会社、OPIE ’26に出展お知らせ

Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日(水)~24日(金)にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe/ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 【見るポイント 】 ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示 【展示会出展情報】 ■会場:パシフィコ横浜 ■日時:2026年04月22日(水) ~ 2026年04月24日(金) ■住所:〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1 ■ブース:K-14 詳細はここにご参照ください。 https://www.opie.jp/2026/list/info.php?id=5296&ex=

万能型ボンドテスターDAGE4000がデザインも一新され、より高精度により多機能になって、生まれ変わりました!

  • テスタ

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各種半導体部品・電子部品の組立工程や基板への実装工程における様々な接合強度試験に一台で対応できる!

  • テスタ

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航空機整備の信頼性を支える、リークテスター

  • 校正・修理
  • テスタ
  • その他計測・記録・測定器

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優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジモデル

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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AI開発におけるICテストの効率化を支援するミドルレンジハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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小型家電製品のICテストを効率化、高品質を両立。

  • テスタ
  • 基板検査装置

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自動車部品の信頼性を支える、高速・高精度ICテストハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したミドルレンジハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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優れた安定性と作業時間の時短を追求したミドルレンジICテストハンドラ

  • テスタ
  • 基板検査装置

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航空機の安全運航を支える高精度圧力校正機器

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キーパッド操作を廃し、直感的に操作できるタッチスクリーン方式を採用!

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LIV・EA・スペクトルまで一台対応——完全自動、超高効率テスター、量産に不可欠

  • テスタ

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シリコンフォトニクスの量産スクリーニングに最適化されたスマートテストシステム

  • テスタ

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4000UPHで圧倒的な量産対応。動・静・高温、すべて自動で。

  • テスタ

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SFP112/QSFP112対応!コンパクトなFTB-1 HPDCシャーシに実装可能

  • ネットワークテスター『FTBx-8848x』シリーズ2.png
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測定したい光集積回路をカスタマイズ!当社のテストソリューションをご紹介

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  • テスタ

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800GbE P to P試験を始め、2x400GbEや8x100GbEとのブレイクアウト試験にも対応!

  • 800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ2.png
  • 800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ3.png
  • 800GbEネットワークテスター『FTBx-8880x』シリーズ4.png
  • テスタ

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光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォーム!

  • 光コンポーネントテスタ『CTP10』2.png
  • テスタ

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800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート!

  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』2.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』3.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』4.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』5.png
  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』6.png
  • テスタ

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ワイヤープローブの摩耗に関する理論的解析のご紹介

  • プローブ
  • テスタ
  • 半導体検査/試験装置

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NSシリーズのレイアウト・操作性はそのままに、 安定的な低温測定を実現

  • テスタ
  • その他半導体製造装置

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テストの常識を変える。AMB5600、多様なICに対応する革新的プラットフォーム。

  • テスタ
  • 試験機器・装置

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最大4096ch対応 業界最速のテストタイムを実現したマルチサイトオープンショートテスター

  • テスタ
  • 試験機器・装置

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*ハイエンドモデル                            優れた安定性と作業時間の時短を徹底的に追求したハンドラ

  • 半導体検査/試験装置
  • テスタ

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  • テスタ
  • 基板検査装置

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  • テスタ
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  • テスタ
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