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パネルサイズにより、ICP-AES/MS装置を使い分けて分析する事が可能です！
信頼性試験前後のパネルを用いてICP測定を行い、定量化を行った事例を ご紹介します。 LCDの液晶分子はパネル内で配向しており、電圧により液晶の配向状態が 変わる事で表示が制御されます。金属元素のようなイオン性物質がパネル 内部に存在すると液晶が正しく駆動せず表示不良が発生。 イオン性物質は、製造時の混入や長期使用で増加することが知られており、 定量化して把握する事がパネル品質として重要です。 金属イオンは、ICP分析を用いることで定量分析を行うことが可能であり、 前処理方法や検出感度の違いにより、ICP-AES/MSを使い分けて行います。 【解析内容】 ■ICP-AES分析による金属元素含有量の比較 ■ICP-MS分析による金属元素含有量の比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属片や錆び、メッキ製品などの金属及び無機系異物を迅速に解析！SEM-EDXで異物の形状と成分(元素)を把握、原因を究明します。
当社で取り扱う「食品異物分析 無機系試料」について ご紹介いたします。 試験としては、まず目視や光学顕微鏡で外観観察を行います。無機系試料と考えられる場合、SEM-EDXによる分析が有効です。 SEM-EDXは、走査型電子顕微鏡(SEM)とEDX(エネルギー分散型X線分光分析)を組み合わせた装置で、電子顕微鏡で観察した試料についてX線による元素分析が可能です。 EDXによる成分の同定は、測定元素のマッピング画像が取得でき、 異物の形状と成分(元素)の分布の把握が可能です。 【検体の種類】 ■金属片 ■鉱物 ■錆び ■燃え殻 ■メッキ製品 等 また報告書は、シーンにあわせて作成が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の分析を実施します。
EPMA、FE-EPMA、XRFの分析方法である波長分散型X線分析法（WDX）を用いて、微量元素・軽元素の受託分析サービスを実施致します。 WDX装置はエネルギー分散型X線分析装置（EDX）よりも波長分解能が優れており、微量元素や軽元素の検出感度が高い分析が可能です。 そのため金属材料の判別や微量元素の拡散状態の分析、異物の分析等の微量元素分析にご利用いただけます。
