【応用事例】ヘキサポッドを用いた非球面光学部品の高精度・高速測定
ヘキサポッドを用いた非球面光学部品の高精度・高速測定
Mahr社の非接触光学測定システム「MarOpto TWI 60」では、PI製ヘキサポッド「H-824」を位置決め機構として採用。 校正球および測定対象を高精度に制御することで、CGHや従来のスティッチングを用いず、非球面・自由曲面光学部品の全表面を20~30秒で測定しています。
- 企業:PIジャパン株式会社
- 価格:応相談
1~1 件を表示 / 全 1 件
ヘキサポッドを用いた非球面光学部品の高精度・高速測定
Mahr社の非接触光学測定システム「MarOpto TWI 60」では、PI製ヘキサポッド「H-824」を位置決め機構として採用。 校正球および測定対象を高精度に制御することで、CGHや従来のスティッチングを用いず、非球面・自由曲面光学部品の全表面を20~30秒で測定しています。