光学特性検査システム 『Swept Test System』
高速かつ高精度・高分解能で IL/WDL/PDL を評価可能！
波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット（PCU-110）および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。 波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。 ■特長 ・リスケーリングアルゴリズム (高分解能 0.1 pm) ・リアルタイムパワーリファレンス (再現性 0.02 dB) ・光源内蔵の高精度波長モニタ (絶対波長精度 3 pm)
- 企業：santec Holdings株式会社
- 価格：応相談
