出荷前検査機器 - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

【半導体向け】出荷検査のお悩み解決

歩留まり向上に貢献する検査体制をご用意

半導体業界では、微細化・高集積化が進む中で、製品の信頼性を 確保するための出荷検査が極めて重要視されています。 特に、歩留まり向上は生産効率と収益性に直結するため、不具合品の 早期発見と原因究明が不可欠です。 不適切な検査は、市場での製品不良につながり、企業の信頼失墜や 多大な損失を招く可能性があります。 当社は、創業47年の実績に基づき、お客様の検査課題に応える 体制をご用意し、歩留まり向上に貢献いたします。 【活用シーン】(小型IC中心) ・外観検査 　(欠け・割れ・ピン曲がり・マーキング不良) ・電気的特性の基本確認 　(導通・絶縁・抵抗値など) ・微細外観欠陥の検出 　(顕微鏡による微小クラック・変形の確認) ・製造工程改善に役立つ検査データ提供 　(不良傾向の分析・工程のボトルネック推定) 【導入の効果】 ・製品不良率の低減 ・歩留まりの向上 ・生産ラインの安定化 ・顧客満足度の向上