分光分析(スペクトル) - 企業1社の製品一覧

[AFM-IR]AFM赤外分光分析

赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

本手法はAFMシステムと連動し計測を行う事で、試料の凹凸および機械特性分布、選択された吸収帯 での赤外吸光像（官能基分布）を同時計測することが可能です。 AFM-IRは以下の特徴があります。 ? 非常に高い空間分解能（ナノスケールオーダー）での評価が可能なため 微小領域でのスペクトル測定・イメージ測定が可能 ? FT-IRのライブラリーを使用することで同様の解析が可能

• 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
• 価格：応相談

• 受託測定
• 受託解析