軟X線を利用した厚さ計(膜厚計)『X線厚さ計 SX-1100』
搬送中のフィルムの厚み測定に、抜群の安定性。検出部、X線源部がコンパクト・軽量で狭いラインにも設置可。計測対象の材質・厚さが広い
シート・板状の物体の厚さ・密度(坪量)を非接触(軟X線)で測定します。 直接厚みを測るのではなく、基準物質との比較によって、 厚さ・密度(坪量)を算出します。 X線厚さ計のように透過減衰によって厚さを見積もる方式では、 空気層-サンプル-空気層と透過する間の減衰を測定するのですが、 サンプルによる減衰が空気より遙かに大きく、搬送による振動の影響は 空気層の厚み変化として現れるのみで、影響は軽微です。 従って搬送中でも高精度で測定することができます。 黒色のフィルムや充填材を含むフィルムも測定できます。 【用途】 ■銅箔、アルミ箔、ステンレス箔 ■電池電極 ■セラミックス(シート、ウェハ) ■ガラス繊維クロス などの連続計測。 ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業:ナノグレイ株式会社
- 価格:応相談