極低加速電圧SEMを活用した医薬品の可視化
最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えします
試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)や収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-STEM)による最先端の観察・分析データをご提供いたします。
- 企業：JFEテクノリサーチ株式会社
- 価格：応相談
