更新日： 集計期間:2026年08月12日～2026年09月08日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2026年08月12日～2026年09月08日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2026年08月12日～2026年09月08日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1～7 件を表示 ／ 全 7 件
小型・軽量・高速・高機能！ヒューマンエラーを低減し、生産性を向上させます。
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
お客様のご要求へ柔軟に対応できる体制を整えています。
『ローコストソリューション』として、内製のLSIテスタ「E320シリーズ」 を用いた量産テストサービスをご提案しております。 コストパフォーマンスを追求した内製テスタを開発し、テストコストの 大幅削減を実現し、テストボードやアクセサリキットなども標準化しており、 テスト開発に伴う初期投資も抑えることができます。 また、テスタ・コンバージョンのための各種ツールをご用意。 他のテスタから「E320シリーズ」への移行もスムーズにおこなえます。 【特長】 ■高いコストパフォーマンス ■フレキシブルな技術サポート ■テストプログラム開発環境 ■テスタ・コンバージョン環境 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体後工程でのAC特性検査用テスター！製品のアバランシェ耐量の試験を実施可能
当社では、半導体テスターを取り扱っております。 半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、 負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。 製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。
SPEA DOT800T パワーデバイス用電気特性検査システム
SPEA社製パワーデバイス用電気特性検査システム DOT800Tは、パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で対応するオールインワンテスタです。 ウェーハレベル、チップレベル、DBC/AMBレベル、最終パッケージレベルのテストまで、あらゆるパワーデバイス・アプリケーションでのISO、AC、DCテストがDOT800Tで実施可能です。 DOT800Tは、従来のシリコンデバイス（Siデバイス）だけでなく、窒化ガリウムデバイス(GaNデバイス)およびシリコンカーバイドデバイス(SiCデバイス）のテストにも対応しており、高電圧・高電流出力モジュール、高周波および低電流測定機能で、それらのテスト・測定範囲をカバーします。 品質と信頼性を保証するために、完全で正確な動的テスト(ACテスト)、静的テスト(DCテスト)、および絶縁テスト(ISOテスト)シーケンスを使用して、実際の利用条件下での正しいデバイス動作が検証されます。 これら全ての機能が量産環境向けに設計され、高スループットのモジュール式でフレキシブルな構成を実現するテスターです。
EV制御向けパワーデバイスの性能を最大限に引き出す電気特性検査システム
EV制御分野では、高電圧・高電流に対応し、高い信頼性が求められるパワーデバイスの性能評価が不可欠です。特に、急激な温度変化や負荷変動下での正確な動作検証は、EVの安全性と性能維持に直結します。不十分な検査は、デバイスの早期劣化や予期せぬ故障につながる可能性があります。SPEA社製DOT800Tは、これらの課題に対応し、パワーデバイスに必要な全ての電気特性検査を1台で実施可能なオールインワンテスタです。 【活用シーン】 ・EV用インバーター、コンバーター、充電器などのパワーモジュール ・ウェハ、チップ、最終パッケージレベルでの各種パワーデバイス ・Si、SiC、GaNデバイスの電気特性評価 【導入の効果】 ・EV制御システムの信頼性向上 ・開発・製造プロセスの効率化 ・製品の品質安定化と歩留まり向上
基礎知識資料進呈中！テスターに依存する製品を移行対応か、製造を中止する必要があります
半導体テスターは、世代ごとに多様な製品ファミリーを サポートしています。 IDMや海外組立・テスト(OSAT)施設がテスターを廃止したり、 新しいプラットフォームに移行したりする場合、そのテスターに 依存する製品を移行対応するか、製造を中止する必要があります。 テストプログラムの移管には費用と時間がかかるため、少量生産の 産業用製品が選ばれることはほとんどありません。 ※記事の詳細内容は、PDF資料より閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
