回折測定(半導体) - 企業2社の製品一覧

微小部X線回折測定

X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上

X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象をピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上。微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が少なく微小部分析に有効です【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい