X線モノキャピラリと半導体検出器との組み合わせ！微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を大幅に向上
X線回折（XRD）は、結晶性物質にX線を照射したときに起こる回折現象を ピークとして捉え、そのパターン、ピーク幅、強度等からその物質の 化合物種の同定や結晶構造に関する情報を得ることが出来ます。 「微小部X線回折装置」では、X線モノキャピラリと半導体検出器との 組み合わせにより、微小領域の構造解析や微小部分析の測定速度を 大幅に向上。 微小物質の化合物形態、残留応力測定等の微小部分における各種調査に 応用出来ます。また、モノキャピラリにより、照射X線を100μmまで 絞ることで、サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能です。 モノキャピラリは、全反射によってX線を取り出すため、X線の減衰が 少なく微小部分析に有効です 【特長】 ■微小部分における各種調査に応用可能 ■サンプルを100μmの領域で構造解析することが可能 ■X線の減衰が少なく微小部分析に有効 ■特定部位における測定に有効 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい
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【測定例】 ■内容 ・装置部品に発⽣した微細なスケールを分析 ■結果 ・試料⾯上の特定部位における測定に、微⼩部X 線回折が有効であると考えられる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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●研究・開発と品質保証のパートナー ●製品の「開発・設計」から「計測・評価・生産」「品質保証・メンテナンス」までのあらゆる技術的課題を「迅速かつ的確」に解決 ●129年の歴史を誇る川崎重工グループの研究開発支援企業 ●川崎重工業技術研究所などの研究開発部門との協調による確かな技術力 ●先端技術分野への積極的取り組み
