マルチチャネル多機能測定システム（同期計測）
ナログ信号発生、収集及びデジタルI/O信号の同期計測が行えるM2pの計測カード！
マルチチャネルテストの必要性は、かつてないほど高まっています。電子部品、デバイス、システムは、性能を向上させるためにアレイおよび並列化技術を使用することが多く、複雑さが増し続けています。従って、それらの性能テストでは、より多くの測定を同時に、より高速で行う必要があります。M2pシリーズは、数十、さらには数百のアナログおよびデジタルチャネルを備えたテストシステムの作成を可能にするための便利なソリューションを提供します。 M2pシリーズによるマルチチャネルテスト用の機能とそのアプリケーションノートを紹介します。 【特長】 ■物理層の信号計測とプロトコル層の信号計測を同期データ収集 ■アナログ信号とデジタル信号のマルチチャネル同期計測を実現 ■SBench6-Proを用いる事により、アナログ信号とデジタル信号を同一画面上に、同期しての表示が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社エレクトロニカIMT事業部
- 価格：応相談
