X線回折による磁石の配向度および磁化容易軸の評価
異方性磁石の重要な特性の一つの残留磁束密度！結晶学的配向度および磁化容易軸の算出
当社では、X線回折による磁石の配向度および磁化容易軸の評価を行って おります。 着磁前の結晶配向度を把握することは異方性磁石の開発や生産ラインの品質 管理の面で極めて重要です。 通常、着磁後の磁気測定結果から算出するものを、着磁前にX線回折の極点図 測定結果から残留磁束密度に対応する結晶学的配向度の算出を可能とし、 加えて、磁化容易軸の角度算出も可能としました。 【調査方法】 ■試料作製 ■磁気測定 ■結晶学的配向度および磁化容易軸の算出 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社大同分析リサーチ
- 価格：応相談
