普及型りん光寿命測定装置 LSP-1000
10 ns ~ μs ~ ms ~ s のりん光や遅延蛍光の寿命を簡単計測
・高速光検出器とオシロスコープによるリアルタイム測定 ・小型パルスレーザーを用いたコンパクト設計 ・近赤外発光にも対応可能 ・分光器オプション
- 企業:株式会社ユニソク
- 価格:応相談
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10 ns ~ μs ~ ms ~ s のりん光や遅延蛍光の寿命を簡単計測
・高速光検出器とオシロスコープによるリアルタイム測定 ・小型パルスレーザーを用いたコンパクト設計 ・近赤外発光にも対応可能 ・分光器オプション
発光寿命からSiCのキャリアライフタイムについて知見が得られます
キャリアライフタイムとは、電子デバイスの動作の際に生じる過剰キャリアの内、少数キャリアが1/eになるまでの時間です。これを適切に制御することがデバイスの電気特性をコントロールする上で重要です。 一方、発光寿命とは試料からの発光強度が1/eになるまでの時間を示し、発光減衰曲線から算出可能です。少数キャリアの一部は再結合時に発光するため、発光寿命測定から間接的にキャリアライフタイムの評価が可能です。本資料では4H-SiCエピ基板のキャリアライフタイム評価の事例を紹介します。 測定法:蛍光寿命測定 製品分野:パワーデバイス、LSI・メモリ、電子部品 分析目的:故障解析・不良解析、製品調査、キャリアライフタイム、プロセス評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
TCSPC機能をも兼ね備えたフェムト・ピコ・ナノ・マイクロ秒の蛍光寿命測定装置
HALCYONEはユーザーフレンドリーなアップ・コンバーション蛍光測定装置です。610 × 915 mmのコンパクトなブレッドボード上に納められ、ミラー・フィルター・BBO結晶・光電子増倍管・自動化された分光器とディレイステージで構成されます。アップコンバージョンモードではレーザーパルス幅×1.4倍、TCSPC モードでは 200 ps の時間分解能で蛍光寿命を簡単に測定でき、結晶角自動調整機能 (オプション) を付加すれば時間分解蛍光スペクトルも取得可能です。